Piezo-elevatorstage

De nauwkeurigheid en de snelheid van probe positionering zijn kritieke waarden voor laser scanning microscopie, confocale fluorescentie- en super resolutie microscopie. Om sample positionering hiervoor te vereenvoudigen, levert Piezosystem Jena een nieuwe PZ 300 piezo elevator stage. De PZ 300 AP piezo slede is ontwikkeld voor montage op standaard XY microscooptafels. Door het vlakke en dunne ontwerp kan de stage zowel voor standaard als voor inverted microscopen worden gebruikt. Het mechanische ontwerp is volledig spelingsvrij en heeft een slag 300 micron met een stapresolutie van +/- 2.5 nanometer. De slede heeft buitengewone dynamische parameters, met insteltijden van enkele milliseconden. De PZ 300 AP kan met geïntegreerde positiesensor worden uitgerust voor closed loop positionering. Een bepaalde positie kan worden opgeslagen en met hoge nauwkeurigheid met nanometer resolutie worden herhaald. De PZ 300 AP heeft een grote centrale aperture zodat de piezoslede ook met Multiwell platen en Petri schaaltjes gevuld kan worden. Het snelle en nauwkeurige gedrag van deze PZ 300 AP geeft u de mogelijkheid om met grotere snelheid en met hoge z resolutie uw metingen te doen. Het doordachte piezo slede ontwerp van de PZ 300 AP reeks heeft twee parallel werkende piezo motoren die er voor zorgen dat de gecentreerde microscoop probe adapter symmetrisch omhoog en omlaag wordt bewogen.

opgeslagen en met hoge nauwkeurigheid met nanometer resolutie worden herhaald.