Lifetime Test Tool

Als NAND flash in een kritische applicatie uitvalt, kan dat grote gevolgen hebben in de vorm van dataverlies, maar ook aansprakelijkheid of garantieclaims. De levensduur van flashgeheugen in de vorm van USB sticks, flash cards en solid state disks is beperkt. Dit is ondermeer afhankelijk van het aantal schrijfen wisacties, de grootte van de datatelegrammen, maar ook de structuur en grootte van de flash chips en de controller.

Het risico van vroegtijdig uitval kan geminimaliseerd worden door vooraf de Lifetime Test Tool van Altec in te zetten. Dit geeft een betrouwbaar beeld van de werkelijke levensduur van het flashgeheugen bij een realistische belasting. Eenvoudigweg MT BF cijfers uit het datasheet van de toegepaste flash overnemen is verre van realistisch. Het stressprofiel van de applicatie wordt opgemaakt door het aantal schrijf- en wisacties te combineren met de filegrootte, de duty cycle, Write Amplification Factor, etc.

Bij complexe of wisselende profielen kan Altec het stressprofiel bepalen door deze te loggen met de USB LTT Traffic FlashDrive. Daarna wordt volgens het stressprofiel de gekozen flash ook daadwerkelijk belast voor de duur van de vooraf bepaalde levensduur, maar dan zonder wachttijden. Voor nieuwe applicaties kan nu de meest economische flash oplossing bepaald worden, zowel in type als in capaciteit. Voor bestaande systemen kunnen de invloeden software updates gesimuleerd worden.